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膜厚测试仪探头使用中经常遇到的问题

来源:http://www.dglianjie.com/news/200.html发布时间:2019-11-08

在维修膜厚测试仪探头时经常发现磁芯的磨损较厉害,有的可以说是损坏严重。例如N1头的宝石芯经常破损掉碴,F1头磁芯的弧芯被压平或变形等。首先作为探头在使用中被磨损属正常现象。但如果用户根据其特点加以注意,就会延长其使用寿命。其中普遍存在的问题是,在测量时,由于通常都是向下测试,使用者往往较用力向下墩,时间一长就很容易造成测头芯的失效。

膜厚测试仪

正确的使用方法是将探头在被测工件一厘米处时轻轻压向被测表面,因为探头在设计时已经内置一感应压力弹簧,只需轻轻压下即可。

另一点,探头在反复移动的过程中,易与其它物体发生磕、碰、撞,也容易造成测头损坏,沧州欧谱所以如果工作条件允许,可以将测头固定而将被测工件去接触探头,从而减少探头的磕碰。 还有一种情况,在测量时,每当测下一个点一定要将测头提起不可平拉,以减少磁芯磨损。

还有一点,测头一定要远离强磁场,以免改变探头的固有频率造成无法工作。正确的操作使用方法会延长膜厚测试仪的使用寿命。

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